2026年3月18日

出典：The Elec

 

LG Displayが、次世代ディスプレイとして注目されるマイクロLEDにおいて、不良ピクセルを検出し修復する「検査・リペア」工程技術の開発を進めていることが明らかになった。これは量産時の歩留まり向上と製造コスト低減に直結する中核技術であり、同社の次世代無機発光ディスプレイ事業の競争力強化につながる取り組みと位置付けられている。

 

マイクロLED量産の鍵となる検査・修復技術

 

業界によると、LGディスプレイは2025年4月から韓国産業通商資源部が主導するマイクロLED検査・リペア分野の国家研究開発プロジェクトに参加している。このプロジェクトにはUlsan National Institute of Science and Technology（UNIST）、韓国ディスプレイ産業研究組合、そして装置企業であるヒュビオやジェステムなどが共同参画している。

 

LGディスプレイはパネルメーカーとして需要企業の役割を担い、開発された検査・リペア工程技術の実証および性能評価を担当する。具体的には、装置メーカーや研究機関が開発した技術を、実際の量産プロセスへの適用という観点から検証する役割である。

 

マイクロLEDは、数十万から数百万個に及ぶ超微細LEDチップを基板上に転写・配列して形成するディスプレイであり、有機材料を用いる有機ELとは異なり無機発光素子を使用する。そのため、高輝度・長寿命・高効率といった特性を持つ次世代ディスプレイとして期待されている。一方で、チップサイズが5〜100マイクロメートルと極めて微細であることから、製造工程において不良ピクセルの発生が避けられないという課題がある。

 

このため、マイクロLEDの量産においては、不良ピクセルを高精度で検出する検査技術と、それらを交換・修復するリペア技術が不可欠となる。従来の電気的発光（EL）ベースの検査は物理的接触が必要であり、チップ損傷のリスクがある。一方、光学的なフォトルミネッセンス（PL）方式は非接触であるものの、検出精度に限界があるとされる。そのため、業界では検査とリペア工程を統合した高効率技術の確立が求められている。

 

特に高解像度パネルでは、仮に歩留まりが99.99％であっても数万単位の不良ピクセルが発生する可能性があり、検査・リペア工程の効率がそのまま生産性とコストに直結する構造となっている。

 

iLED国家プロジェクトで量産コスト低減を狙う

 

マイクロLEDの商用化に向けては、チップ転写、接合、検査、リペアといった一連のプロセス技術の高度化と安定化が不可欠である。特に検査・リペア技術は、歩留まり改善と製造コスト低減の両面に影響を与える重要要素とされている。業界関係者は「マイクロLEDでは構造的に不良ピクセルが発生するため、検査とリペア工程が歩留まり確保の鍵となる」と指摘している。

 

また別の関係者は「リペア技術は商用化時期を直接早めるというよりも、製造コスト低減への寄与が大きい。歩留まりが改善されれば全体コストが下がる構造だ」と説明している。

 

今回の取り組みは、韓国政府が推進する無機発光ディスプレイ（iLED）技術開発および産業エコシステム構築プロジェクトの一環である。同プロジェクトは2025年から2032年まで総額4840億ウォン規模で進められており、マイクロLEDを含む次世代発光技術全体を対象としている。

 

その中の個別課題として、「チップ交換型の中小型マイクロLEDディスプレイにおける検査・リペア工程技術開発」や、「チップ非交換型パネルの検査・リペア工程技術開発」などが設定されており、それぞれ約45か月間にわたり研究開発が行われる計画である。LGディスプレイはこれらの取り組みを通じて、次世代ディスプレイ分野における技術的優位性の確立を目指している。